主要应用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片外观检测；；；；；；检测缺陷类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，，，，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，，，，，，节约人力，，，，，，提升制程的品质稳固性。。。。。。。本系统基于细密运动和减震平台，，，，，，搭载纳米级光学系统，，，，，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法团结，，，，，，完成芯片取放，，，，，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，，，，识别芯片编号和关联对应输有缺陷信息;

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